Schema della sezione

    • Diffrazione di raggi X: concetti base sulla fisica della diffrazione. Legge di Bragg. Sfera di Ewald e reticolo reciproco. Simmetria del reticolo reciproco. Classi Laue. Assenze sistematiche. Scattering anomalo.

    • Strumentazione: sorgente di raggi X, componenti ottiche del diffrattometro, goniometro, detector. Raffreddamento del cristallo per cryocrystallography. Centratura del cristallo. L'esperimento di diffrazione. Ottimizzazione dei parametri della raccolta dati. Indicizzazione. Integrazione. Determinazione del gruppo spaziale. Scalatura e merging. Valutazione della qualità della raccolta dati. Danno da radiazione. Twinning. (Cenni a Serial Femtosecond Crystallography, SFX, con X-ray Free Electron Laser, X-FEL.)